掃描電鏡分類(lèi)

發(fā)表日期:2016/11/28 瀏覽次數(shù):


目前市場(chǎng)上提供的商品掃描電鏡分為兩類(lèi):場(chǎng)發(fā)射掃面掉進(jìn)(FEG SEM)和常規(guī)掃描電鏡(ConventionalSEM,簡(jiǎn)稱(chēng)(C SEM)。

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡屬于高分辨型電鏡,使用場(chǎng)發(fā)射槍?zhuān)缤惨粋€(gè)2000W特種電源,亮度高,可以照明樣品各個(gè)部位的細(xì)節(jié),電子束斑直徑不小于1nm。能把樣品1nm尺度的細(xì)節(jié)成像,可以真正實(shí)現(xiàn)低加速電壓下工作。提供的高分辨率圖像可以與同樣放大倍率下的透射電鏡圖像進(jìn)行對(duì)比?,F(xiàn)代FEG SEM克服了早期電子源不穩(wěn)定和使用麻煩的缺點(diǎn),場(chǎng)發(fā)射電子槍參數(shù)一經(jīng)設(shè)定后,全部由計(jì)算機(jī)控制,使用是只需要選定加速電壓就可以操作,幾十調(diào)10萬(wàn)倍圖案,也是輕而易舉的事情。為此電鏡廠家在電子槍的選用、透鏡像差校正、信號(hào)探測(cè)和高真空系統(tǒng)等方面進(jìn)行了精心設(shè)計(jì)和制造,追求分辨率的提高,由此可見(jiàn),分辨率值使反應(yīng)電鏡綜合性能的唯一指標(biāo)。FEG SEM目前已經(jīng)大量應(yīng)用于半導(dǎo)體、電腦、材料等領(lǐng)域。

常規(guī)掃描電鏡

常規(guī)掃描電鏡使用熱電子槍?zhuān)c場(chǎng)外發(fā)射槍相比,相當(dāng)10W白熾燈,亮度有限,束斑直徑較大。兩種電鏡分辨相差不大,但想要獲得一張3NM分辨率的圖像,不是任何一個(gè)人是可以實(shí)現(xiàn)的,這已經(jīng)是目前的極限值。至于放大倍率可達(dá)到300kx,則沒(méi)有任何實(shí)際意義,因?yàn)槭咧睆矫黠@大于該倍率下的像元值,分辨率受到束斑直徑的限制,但是對(duì)于大量的常規(guī)檢測(cè),這種電鏡因其價(jià)格便宜,適用性強(qiáng),維護(hù)費(fèi)用低而不可或缺



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