全新展望卡爾蔡司關(guān)聯(lián)顯微鏡顆粒度分析-華普通用

Axio Zoom.V16與關(guān)聯(lián)顯微鏡都能進行顆粒質(zhì)量檢測
德國斯圖加特，耶拿在今年德國斯圖加特舉辦的清潔貿(mào)易博覽會上，卡爾蔡司顯微鏡部帶來了兩個用于顆粒分析的新選擇。通過Axio Zoom.V16系統(tǒng)，用戶可以快速高效地檢測部件的清潔度，同時關(guān)聯(lián)顯微鏡還可對單個顆粒進行化學(xué)元素和成分分析。
對于汽車與電子行業(yè)和機械工程行業(yè)中質(zhì)量控制領(lǐng)域的用戶，都可以運用這兩個方法去檢查清潔度和確認(rèn)在工藝過程中扮演重要角色的顆粒。該顆粒度分析支持ISO 16232和VDA 19 標(biāo)準(zhǔn)。
Axio Zoom.V16
Axio Zoom.V16是一款變倍比可達(dá)16、孔徑光闌交大的連續(xù)變倍體顯微鏡。它可以拍攝大視場范圍的圖像，并具有較高的分辨率。通過全新的電動控制器可以改變偏光襯度，顆粒就可以完全自動地分為反射型和非反射型。采用AxioVision的顆粒度分析軟件模塊可以獲得面積百分比，大小分布以及顆粒類型的信息。Axio Zoom.V16對5μm以上的顆粒測量有很好的表現(xiàn)并能快速地提供所需信息。“位于斯圖加特主要應(yīng)用于制造工程及全自動IPA的Fraunhofer研究所的首批用戶都被分析區(qū)域之大及分析時間之短震撼了。”Jati Kastanja卡爾蔡司顆粒分析產(chǎn)品經(jīng)理熱情的介紹到。
關(guān)聯(lián)顯微鏡顆粒分析
關(guān)聯(lián)顯微鏡是指可以將光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡相結(jié)合的一個工作體系。光學(xué)顯微鏡可以觀察得到面積百分比，大小分布和顆粒類型的結(jié)果。另外，X射線能譜分析法(EDS)可以確認(rèn)化學(xué)組成元素，這就構(gòu)成了光鏡下所選顆粒的成分分類基礎(chǔ)。三種不同的用戶模式確保對未決定任務(wù)的調(diào)整，以及確認(rèn)分析數(shù)據(jù)細(xì)節(jié)的等級.ZEISS電子顯微鏡EVO和SIGMA以及光學(xué)顯微鏡Axio Imager都支持關(guān)聯(lián)顯微鏡顆粒度分析。關(guān)聯(lián)顯微鏡的顆粒分析過程是全自動的，并且比單個顯微鏡的分析要快10倍多。測量結(jié)束，用戶還可以得到一份關(guān)于光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡分析結(jié)果的綜合報告。